题目内容 (请给出正确答案) 提问人:网友 发布时间: 【单选题】 射线探伤时,使用像质计的主要目的是()。 A、测量缺陷的大小B、测量缺陷的位置C、测量缺陷的几何不清楚度D、确定底片的彩像质量 查看正确答案