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【简答题】

射线源和胶片处于工件两面，透照时的像质计应如何放置？为什么？

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第1题

[] 采用换算的方法，可将某种材料制作的像质计用于不同吸收系数的材料透照时的像质评价。

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第2题

[多选题] 在下列叙述中，与JB/T4730.2-2005标准规定符合的是：（）

A、双壁单影透照像质计放置在胶片侧 B、当像质计放置在胶片侧时，应在像质计上适当位置放置铅字“F”作为标记，“F”标记影象应与像质计的标记同时出现在底片上，且应在检测报告中注明 C、单壁透照时允许像质计放置在胶片侧，但必须进行对比试验 D、当一张胶片上同时透照多条焊接接头时，至少在第一条、中间一条和最后一条焊接接头处各放一个置像质计

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第3题

[简答题] 假设X射线机、管电压、管电流、透照布置、X光胶片、增感屏、显影条件及试件均不变。将像质计放在厚试件上用t1分的曝光时间透照时，直径d1的金属丝在底片上的影象对比度为△D1，然后用铅光阑和屏蔽板减少散射线作第二次透照，为得到同黑度的底片，需要t2分的曝光时间，此时若同一直径金属丝的影象对比度为△D2，试证下列关系：△D2/△D1=t2/t1

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第4题

[单选题] 常用的像质计是（）。

A、槽式像质计 B、线形像质计 C、孔形像质计 D、以上都是

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第5题

[判断题] 常用的像质计是板式像质计。

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第6题

[] 能量较低的射线较更容易被胶片吸收，引起感光，因此，射线透照时防止散射线十分重要。

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第7题

[判断题] 当采用像质计置放在胶片侧时，应在胶片上放置识别铅字母，例如“F”，以示该底片上像质计影像与放置在射源侧情况的区别。

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第8题

[判断题] 使用γ射线或高能X射线透照厚工件时，胶片类型和胶片黑度的选择十分重要。

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第9题

[] 像质计一般应放置在工件源侧表面焊接接头的中间位置。

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