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【多选题】

综合致热型设备发热的原因可能包括（）。

A、电流效应

B、电磁效应

C、电压效应

D、热传导作用

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第1题

[] 综合致热型设备发热的原因可能包括电流效应、电磁效应、电压效应。

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第2题

[判断题] 红外热像检测表面温度判断法主要适用于电压致热型；综合致热型引起发热的设备。

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第3题

[多选题] 红外热像检测表面温度判断法主要适用于（）引起发热的设备。

A、电流致热型 B、电磁效应 C、电压致热型 D、综合致热型

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第4题

[单选题] 红外热像检测图像特征判断法主要适用于（）致热型设备。

A、电流致热型 B、电磁效应 C、电压致热型 D、综合致热型

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第5题

[单选题] 红外热像检测判断方法中，（）主要适用于电流致热型设备。特别是对小负荷电流致热型设备，采用该法可降低小负荷缺陷的漏判率。对电流致热型设备，发热点温升值小于15K时，不宜采用该法。

A、表面温度判断法 B、同类比较判断法 C、图像特征判断法 D、相对温差判断法

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第6题

[判断题] 电流致热型设备反映设备的外部缺陷，电压致热型设备反映设备的内部缺陷。

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第7题

[单选题] 对于磁场和漏磁引起的过热可根据（）设备的判据进行处理。

A、电流致热型 B、电磁效应 C、电压致热型 D、综合致热型

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第8题

[单选题] 电压致热型引起的发热可以反映设备的内部缺陷和外部缺陷，但是不包括以下哪一种缺陷（）

A、接触电阻增大 B、泄漏电流增大 C、介损增大 D、表面有裂纹

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第9题

[单选题] 对电流致热型设备，（），不宜采用相对温差判断法。

A、发热点温升值大于15K时 B、发热点温升值小于15K时 C、发热点温升值大于50K时 D、发热点温升值小于50K时

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