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【简答题】
被检工件δ=50mm要求Ug不大于0.4mm,已知X光管的焦点为8mm,试求最小焦距f应是何值?
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更多“被检工件δ=50mm要求Ug不大于0.4mm,已知X光管的焦点为8mm,试求最小焦距f应是何值?”相关的问题
第1题
[简答题]
被
检
工件
δ
=24
mm
,选用焦距f=6
0
0
mm
,
要求
Ug
不
大于
0
.4
mm
,试计算X光管的焦点大小?
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第2题
[简答题]
被
检
工件
厚度
δ
=5
mm
,
要求
Ug
不
大于
0
.4
mm
,已知X射线管的焦点尺寸为3x3
mm
,求最小焦距。
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第3题
[] 对
工件
干燥处理时,
被
检
面的温度
不
得
大于
5
0
℃。
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第4题
[简答题] 被透照
工件
厚度
δ
=6
0
mm
,已知X光管的焦点为d=
0
.4
mm
,选用焦距为6
0
0
mm
,试求最大半影宽度(即几何
不
清晰度)?
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第5题
[简答题] 被透照
工件
厚度
δ
=6
0
mm
,已知X光管的有效焦点d=
0
.4
mm
,选用焦距f=6
0
0
mm
,求该底片的最大几何
不
清晰度是多少?
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第6题
[判断题] 用锉刀
检
查
工件
硬度时,当锉刀在
被
检
零件表面打滑,此时表示
被
检
零件表面硬度
大于
或等于锉刀的硬度。
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第7题
[判断题] 用连续法
检
测时,
检
测灵敏度几乎
不
受
被
检
工件
材质的影响,仅与
被
检
工件
表面磁场强度有关。
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第8题
[单选题] 磁粉
检
测时,如果
被
检
工件
表面残留有涂层,当涂层厚度均匀
不
超过()
mm
,且
不
影响
检
测结果时,经合同各方同意,可以带涂层进行磁粉
检
测。
A、
0
.5 B、
0
.
0
0
5 C、
0
.
0
1 D、
0
.
0
5
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第9题
[判断题] 使用磁场指示器时,应将其放在
被
检
工件
表面上,使镀铜一面靠近
被
检
工件
表面。
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