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提问人:网友 发布时间:
【判断题】

在一般情况下,介质损耗tg∮试验主要反映设备绝缘的整体缺陷,而对局部缺陷反映不灵敏。

更多“在一般情况下,介质损耗tg∮试验主要反映设备绝缘的整体缺陷,而对局部缺陷反映不灵敏。”相关的问题
第3题

A、标称电容量Cb和绝缘电阻  B、介质损耗因数tgδ和额定电压  C、标称电容量Cb和介质损耗因数tgδ  D、标称电容量Cb和高频等效电阻r  

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第4题

A、空载损耗和空载电流试验  B、绝缘电阻和介质损耗因数tgδ测量  C、局部放电测量  D、引出线的极性检查试验  

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第9题

A、介质损耗因数可以工频电压测量  B、可以0.1Hz低频电压测量,测量电压为U0  C、可以0.2Hz低频电压测量,测量电压为U0  D、试验方法参考GB/T3048.1  

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