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【简答题】
Lafe使用Product X-R Chart进行监控的参数,一般要求CPK>=1.33,请问这有什么好处?
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更多“Lafe使用Product X-R Chart进行监控的参数,一般要求CPK>=1.33,请问这有什么好处?”相关的问题
第1题
[简答题]
Lafe
现采用的
X
-R
Ch
art可分为
Product
X
-R
Ch
art和Tester
X
-R
Ch
art,请问它们在生产线上的作用分别是什么?
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第2题
[] 在
lafe
采用
X
-R
Ch
art的参数有哪两大益处?
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第3题
[] 生产部某员工在做
Product
X
-R
Ch
art时,发现有1ea料超出规格范围,但相应的点却在
X
Control Limit内,请问这应属于什么状况?
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第4题
[简答题] 抽样在生产及出货中都被采用,请问在做
Product
X
-R
Ch
art与做FPQA Audit所采用的抽样的作用有何不同?
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第5题
[多选题] 下列为
Product
X
-R
Ch
art的设置点的是:()。
A、具有可靠性要求的参数 B、易于变动的测量仪器 C、取Data较难但又影响产品质量的参数
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第6题
[] OP#50工序某参数
X
-R
Ch
art失控后,生产主任在OP#10工序发现许多该参数Outof spec.的料,请问这种
X
-R
Ch
art监控存在什么问题?
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第7题
[简答题] 产品参数
使用
X
-R
Ch
art控制,要求参数的工序能力一般为多少?
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第8题
[简答题] 采用Histogram进行监控的参数在什么条件下可转为
使用
X
-R
Ch
art进行监控?
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第9题
[简答题] Cpk=1.09的参数,在什么条件下可
使用
X
-R
Ch
art?
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