A、杂乱
B、平行于晶粒流向
C、垂直线于晶粒流向
D、倾斜于晶粒流向
A、杂乱 B、平行于晶粒流向 C、垂直线与晶粒流向之间 D、与晶粒流向成45º角
A、纵裂纹 B、横裂纹 C、缺陷 D、缺损
A、锻造缺陷一般与锻造纤维方向平行 B、探测面通常选择与锻造纤维方向平行的面 C、锻件尺寸大，纵波探伤穿透力强 D、以上三种原因都是
A、主要受力区域 B、缺陷可能产生的部位 C、磁粉探伤有关知识 D、主要受力区域和缺陷可能产生的部位
A、待鉴定 B、待复验 C、有缺陷 D、存在裂纹
A、 平行且靠近探测面 B、 与声速方向平行 C、 与探测面成较大角度 D、 平行且靠近底面
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